Book
Исследование влияния облучения электронами различных доз на свойства полупроводниковых фотоприемников и преобразователей солнечной энергии
| Отчет по научно-исследовательской работе по хоз. договору ПД-18, проводимой в ЕГУ и в ЕрФИ для ЕрФИ, 1986, гос.рег. N 0186.0130298, УДК 621.383.4, c. 80
Исследование и разработка метода фотоемкостной спектроскопии для определения профиля распределения глубоких центров в полупроводниках
| Отчет по научно-исследовательской работе по хоз. договору ПД-17, проводимой в ЕГУ для СКВ ИРФЭ АН Арм. ССР, 1985, гос.рег. N0185.051340, УДК 621.383.4, c. 30
Article
Статические и щумовые характеристики нанокомпозитных газовых сенсоров
| Известия АН Арм. ССР. Физика. – 2014 г. – Т , 5c.
Gas Detector Thermal Testing Chamber with on Trial Gas Mixtures
| Semiconductor Micro and Nanoelectronics. Proc. of the Ninth International Conference, May 24-26, Yerevan, Armenia, 2013, p. 91, p. 4
Low-frequency noise special measurement chamber
| Semiconductor micro -and nanoelectronics. Proc. of the Eight International Conference. Yerevan, Armenia, July 1-3 2011,p. 6
Colour iridizations and backscattering electron imaging in the study of metal alloy microstructures
| Semiconductor micro -and nanoelectronics. Proc. of the Sixth International Conference. Tsakhkadzor, Armenia, pp. 184-187. September 18-20, 2007, p. 4
Aging of porous silicon based photoelectric structures
| Hydrogen energy.- Russia, 2006, т.6, вып.12. стр. 33, p. 4
Thesis
"Исследования методами СЭМ и локальной лазерной фотолюминесценции фотодиодных структур со слоем пористого кремния"
| Тезисы докладов XX Российской конференции "Электронная микроскопия", проведенной в г. Черноголовка. – 2004, c. 1
Investigation of Porous Surface Area Participating in Transcapillary Metabolism
| SCANNING.-2001.-Vol.23, N2. Proceedings of SCANNING 2001, New York, NY, USA, p, 1.
Study of the Porous Surface Microstruc-tures' Profile with the Method of Stereo-microgonio-metry in SEM
| Proceedings of the IX International Meeting on Electron Microscopy. World of Microstructure. N4. Yerevan. 2000, p. 1
SEM Beam backscattered Electron Multiplier Silicon Sensor
| Proceedings of the VIII International Meeting on Electron Microscopy. World of Microstructure. N4. Yerevan. 1999, p. 1
Quantitative Analysis of Surface Roughness by SEM
| Proceedings of the VIII International Meeting on Electron Microscopy. World of Microstructure. N4. Yerevan. 1999, p. 1