Գուրգեն Էդիկի Հարությունյան
Կենսագրություն
Կրթություն
2005 - 2008 թթ. Երևանի պետական համալսարան, Ինֆորմատիկայի և կիրառական մաթեմատիկայի ֆակուլտետ, տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի աստիճան
2003 - 2005 թթ. Երևանի պետական համալսարան, Ինֆորմատիկայի և կիրառական մաթեմատիկայի ֆակուլտետ, մագիստրոսի աստիճան
1999 - 2003 թթ. Երևանի պետական համալսարան, Ինֆորմատիկայի և կիրառական մաթեմատիկայի ֆակուլտետ, բակալավրի աստիճան
1998 - 1999 թթ. Աբովյան քաղաքի վարժարան
1994 - 1998 թթ. դպրոց N2, քաղաք Աբովյան
1989 - 1994 թթ. դպրոց N10, քաղաք Աբովյան
Տեխնիկական գիտությունների թեկնածու, 2008, Երևանի պետական համալսարան

Աշխատանքային գործունեություն
2010 - 2012 թթ. Սինոփսիս, ավագ ճարտարագետ
2004 - 2010 թթ. Վիրաժ Լոջիկ, ավագ ճարտարագետ
2000 - 2004 թթ. Երևանի պետական համալսարան, ծրագրավորող

Գիտական հետաքրքրությունների շրջանակը
Հիշող սարքերի տեստավորում

Պարգևներ
Ուսանողական կամավորական ծառայությունների համար` Ջերալդ Գորդոնի անվան մրցանակ, Միջազգային Տեստավորման Գիտաժողով, ԱՄՆ, 2008
Լավագույն ուսանողական աշխատություն, Արևելք-Արևմուտք Նախագծման և Տեստավորման Գիտաժողով, Ռուսաստան, 2006

Լեզուներ
Հայերեն, Ռուսերեն, Անգլերեն

Գուրգեն Էդիկի Հարությունյան

Ասիստենտ | Տեղեկատվական տեխնոլոգիաների կրթական եվ հետազոտական կենտրոն - Տեղեկատվական համակարգերի ամբիոն
 
 

Հոդված/Article

D. Sargsyan, Gurgen Harutyunyan, Samvel K. Shoukourian, Yervant Zorian

Automated flow for test pattern creation for IPs in SoC | EWDTS. 2017: 1-4

S. Martirosyan, Gurgen Harutyunyan, Samvel K. Shoukourian, Yervant Zorian

An efficient testing methodology for embedded flash memories | EWDTS. 2017: 1-4

G. Tshagharyan, Gurgen Harutyunyan, Samvel K. Shoukourian, Yervant Zorian

Experimental study on Hamming and Hsiao codes in the context of embedded applications | EWDTS, 2017: 1-4

Lusine Martirosyan, Gurgen Harutyunyan, Samvel K. Shoukourian, Yervant Zorian

A power based memory BIST grouping methodology | East-West Design & Test Symposium (EWDTS). 2015, p. 27-30 |

Grigor Tshagharyan, Gurgen Harutyunyan, Samvel K. Shoukourian, Yervant Zorian

Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories | East-West Design & Test Symposium (EWDTS). 2015, p. 19-22 |
1   2   3   4   5   6   7   8   9  |  Տեսնել բոլորը
 

Արտոնագիր/Patent

Aram Hakhumyan, Gurgen Harutyunyan, Samvel Shoukourian, Valery Vardanian, Yervant Zorian

Testing electronic memories based on fault and test algorithm periodicity | SYNOPSYS, INC. (Mountain View, CA). 9831000. Nov 28, 2017
 

Թեզիս/Thesis

H. Grigoryan, G. Harutyunyan, S.Shoukourian, V. Vardanian, Y. Zorian

“Minimal Algorithms for Testing Content-Addressable Memories” | In proc. of IEEE East-West Design & Test Symposium 2010, St. Petersburg, Russia, September 17-20, 2010