Վալերի Արտյուշայի Վարդանյան
Կենսագրություն
Կրթություն
1975 - 1980 թթ. Երևանի Պետական Համալսարան, կիրառական մաթեմատիկայի ֆակուլտետ, կիրառական մաթեմատիկա, մաթեմատիկոսի որակավորում;
1981 - 1983 թթ. ՀՀ ԳԱԱ Ասպիրանտուրա;
1975 - 1980 թթ. դպրոց #78, քաղաք Երևան, Հայաստան, ոսկե մեդալ

Գիտական աստիճան
Ֆիզիկա-մաթեմատիկական գիտությունների թեկնածու, 1987 թ., Մոսկվայի պետական համալսարան; Մոսկվա, Ռուսաստան: Ատենախոսության վերնագիրը` «Տրամաբանական սխեմաների դինամիկ տեստերի բարդության հետազոտություն»

Աշխատանքային գործունեություն
2010 թ-ից այժմ՝ «Սինոփսիս Հայաստան» ՓԲԸ, Երևան, Տեստավորման և վերանորոգման մեթոդաբանության խմբի կառավարիչ, Ներկառուցված տեստավորման և վերանորոգման բաժին, Լուծումների Խումբ;
2001 թ-ից այժմ՝ Երևանի պետական համալսարան, Ինֆորմացիոն Տեխնոլոգիաների Հետազոտական Կենտրոն, ասիստենտ (համատեղությամբ, կես դրույք),
2000 - 2010 թթ. «Վիրաժ Լոջիք» ընկերության երևանյան մասնաճյուղ, Ներկառուցված տեստավորման և վերանորոգման բաժին, Տեստավորման և վերանորոգման մեթոդաբանության խմբի կառավարիչ
1996 - 1997 թթ. Սաարբրյուքեն (Saarbrucken) քաղաք, Սաարլանդի համալսարան, Արևմտյան Գերմանիա, հրավիրված հետազոտող;
1993 թ-ից այժմ՝ ՀՀ ԳԱԱ Ինֆորմատիկայի և ավտոմատացման պրոբլեմների ինստիտուտ, ավագ գիտաշխատող
1988 - 1992 թթ. ՀՀ ԳԱԱ Ինֆորմատիկայի և ավտոմատացման պրոբլեմների ինստիտուտ, գիտաշխատող;
1984 - 1987 թթ. ՀՀ ԳԱԱ Ինֆորմատիկայի և ավտոմատացման պրոբլեմների ինստիտուտ, կրտսեր գիտաշխատող;

Կարդացվող դասընթացներ
«Էլեկտրոնային հաշվիչ մեքենաների տեստավորման հիմունքները»; «Վրիպակների նկատմամբ կայուն համակարգերի նախագծում»

Գիտական հետաքրքրությունների շրջանակը
Բուլյան ֆունկցիաներ և ավտոմատներ, թվային սխեմաների տեստավորում, հիշող սարքերի տեստավորում և վերանորոգում

Մասնակցությունը դրամաշնորհների
Գերմանական DAAD գրանտ, Ամերիկյան IEEE ճամփորդական գրանտներ

Անդամակցություն
IEEE East-West Design & Test Symposium, IEEE մի շարք գիտաժողովների (IEEE Workshops MTDT, TECS etc) ծրագրային կոմիտեի անդամ, IEEE TTTC անդամ, Միկրոէլեկտրոնիկայի միջազգային օլիմպիադայի ծրագրային կոմիտեի անդամ, 80-ից ավել գիտական տպագրություններ, 5 ամերիկյան արտոնագրեր (ցուցակը կցված է),

Պարգևներ
Լավագույն զեկուցման մրցանակ՝ ստացված IEEE East-West Design & Test սիմպոզիումում

Լեզուներ
հայերեն, ռուսերեն, անգլերեն

Վալերի Արտյուշայի Վարդանյան

Դոցենտ | Տեղեկատվական տեխնոլոգիաների կրթական եվ հետազոտական կենտրոն - Տեղեկատվական համակարգերի ամբիոն
 
 

Գիրք/Book

Վ. Ա. Վարդանյան

Թեստային հարցերի և խնդիրների շտեմարան | Երևան, Ճարտարագետ, 2011:—306 էջ

Vardanyan V.A., Bozoyan Sh.E., Simonyan S.H., Vardanyan R.R., Maranjyan H.B., Buniatyan V.V., Khudaverdyan S.Kh., Petrosyan S.G., Babayan A.H., Harutyunyan A.G., Travajyan M.G., Yeghiazaryan S.S., Gomtsyan H.A., Melikyan V.Sh., Movsisyan V.M., Muradyan M.A., Ayvazyan G.E., Melkonyan S.V., Minasyan A.K., Tumanyan A.K., Stepanyan H.L., Tananyan H.G.

I-IV Armenian Microelectronics Olympiad Tests and Problems | SEUA, Yerevan, 2009.-218 P. (in Armenian)

Vardanyan V.A., Melikyan V.Sh., Movsisyan V.M., Bozoyan Sh.E., Simonyan S.H., Vardanyan R.R., Maranjyan H.B., Buniatyan V.V., Khudaverdyan S.Kh., Petrosyan S.G., Babayan A.H., Harutyunyan A.G., Travajyan M.G., Yeghiazaryan S.S., Gomtsyan H.A., Muradyan M.A., Ayvazyan G.E., Melkonyan S.V., Minasyan A.K., Tumanyan A.K., Stepanyan H.L.

I-III Armenian Microelectronics Olympiad Tests and Problems | SEUA, Yerevan, 2008.-161 P. (in Armenian)
 

Հոդված/Article

Vrezh Sargsyan, Valery A. Vardanian, Samvel K. Shoukourian, Yervant Zorian, Avetik Yessayan

An efficient approach for memory repair by reducing the number of spares | East-West Design & Test Symposium (EWDTS) Batumi, Georgia September 26-29, 2015, pp. 21-25 (english) |

T. Grigoryan, H. Malkhasyan, G. Mushyan, V.Vardanian

Fault Collapsing For Digital Circuits Based On Relations Between Stuck-At Faults | IEEE Proceedings "Computer Science and Informatio Technologies (CSIT)", USA, 2015, pp. 15-18 (English)

Gurgen Harutyunyan, Samvel K. Shoukourian, Valery A. Vardanian, Yervant Zorian

Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm | East-West Design & Test Symposium (EWDTS), Kiev, Ukraine September 26-29, 2014, pp. 5 - 9 (english)

Melkumyan T., Harutyunyan G., Shoukourian S., Vardanian V., Zorian Y.

“An Efficient Fault Diagnosis and Localization Algorithm for Successive-Approximation Analog to Digital Converters'' | Proc. IEEE East-West Design and Test Symposium, Kharkov National University of Radioelectronics, Kharkov, Ukraine, Sep. 14-17, 2012, pp. 15-18

G. Harutyunyan, S. Shoukourian, V. Vardanian, Y. Zorian

“A New Method for March Test Algorithm Generation and Its Application for Fault Detection in RAMs” | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD), Volume 31, Number 6, June 2012, pp. 941-949
1   2   3   4   5   6   7   8   15  |  Տեսնել բոլորը
 

Արտոնագիր/Patent

Aram Hakhumyan, Gurgen Harutyunyan, Samvel Shoukourian, Valery Vardanian, Yervant Zorian

Testing electronic memories based on fault and test algorithm periodicity | SYNOPSYS, INC. (Mountain View, CA). 9831000. Nov 28, 2017
 

Թեզիս/Thesis

Alexanyan K., Amirkhanyan K., Karapetyan S., Shoukourian S., Shubat A., Vardanian V., Zorian Y.

“Various methods and apparatuses for memory modeling using a structural primitive verification for memory compilers” | US Patent No. 8,112,730, 2012

H. Grigoryan, G. Harutyunyan, S.Shoukourian, V. Vardanian, Y. Zorian

“Minimal Algorithms for Testing Content-Addressable Memories” | In proc. of IEEE East-West Design & Test Symposium 2010, St. Petersburg, Russia, September 17-20, 2010

K. Aleksanyan, V.A. Vardanian

“Yield Improvement Based on Full Repair of SRAMs with Defective Redundancies” | Proceedings of IEEE East-West Design & Test International Symposium, Yerevan, Armenia, 2007

T.A. Gjonjyan, J.T. Sargsyan, V. Vardanian

“Fast Generation of March Tests for Fault Detection and Diagnosis in Static Random Access Memories” | Proceedings of IEEE East-West Design & Test International Symposium, Yerevan, Armenia, 2007

T. Gyonjyan, V. A. Vardanian

“An Efficient Algorithm for Generating Minimal March Tests for Fault Detection and Diagnosis in Static Random Access Memories” | International Design and Test Workshop, Dubai, November 19-20, 2006
1   2   3  |  Տեսնել բոլորը