24-26 апреля 2023 г. в городе Сан-Диего американского штата Калифорния состоялся научный симпозиум IEEE VLSI Test Symposium (VTS), где с докладом выступил профессор ОИЦИТ д.и.н. Гурген Арутюнян. Научный симпозиум посвящен исследованию тестирования, надежности и безопасности микроэлектронных схем и систем. Профессор Арутюнян, являющийся вице-председателем программного комитета данного научного симпозиума, представил две научные статьи. Первая статья была посвящена эффективному решению тестирования устройств внешней памяти, а вторая – преодолению вызовов, связанных с тестированием и ремонтом внедренных новейших устройств памяти.
Г. Арутюнян является автором более 80 научных статей, выступал с докладами на порядка 40 международных научных конференциях, является членом программного комитета ряда международных научных конференций, обладает 8 американскими патентами.
