Знание языков
Հայերեն
English
Русский
Українська
Публикации
Конференция
A power based memory BIST grouping methodology.
2015
27-30
Конференция
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories.
2015
19-22
Конференция
Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm.
2014
5-9
