Հրապարակումներ
Արտոնագիր
DETECTION OF ADDRESS ERRORS IN MEMORY DEVICES USING MULTI-SEGMENT ERROR DETECTION CODES
2021
Հոդված
Memory Physical Aware Multi-Level Fault Diagnosis Flow
Հոդված
Fault Awareness for Memory BIST Architecture Shaped by Multidimensional Prediction Mechanism
Արտոնագիր
FINFET-BASED MEMORY TESTING USING MULTIPLE READ OPERATIONS
2019
Հոդված
Experimental study on Hamming and Hsiao Codes in the Context of Embedded Applications
Հոդված
Automated Flow for Test Pattern Creation for IPs in SoC
Հոդված
An Efficient Testing Methodology for Embedded Flash Memories
Հոդված
Security Issues in Test and Repair Infrastructure for Systems-on-Chip
Արտոնագիր
Testing Electronic Memories Based on Fault and Test Algorithm Periodicity
2017
Գիտաժողովի նյութ
A power based memory BIST grouping methodology.
2015
27-30
Գիտաժողովի նյութ
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories.
2015
19-22
Գիտաժողովի նյութ
Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm.
2014
5-9
