Լեզուների իմացություն
Հայերեն
English
Русский
Українська
Հրապարակումներ
Հոդված
An Extended Efficient Algorithm of Pattern Matching for Partially Commutative Monoids
Հոդված
LEARNING METHODOLOGY FOR VALIDATION OF MEMORY BIST SOLUTIONS VIA A SHARED INTERFACE
Հոդված
Results of Validation Analysis for Multi-Memory Bus BIST Engines
Հոդված
Repair of Resistive Open Defects on Word-Lines and Bit-Lines of SRAMs
Հոդված
An Approach for Increasing Memory Repair Efficiency
Հոդված
Analytics for AI Related Applications of Multidimensional Multitape Finite Automata
Հոդված
Functional Safety Compliant Test & Repair Framework for System-on-Chip Lifecycle Management
Արտոնագիր
DETECTION OF ADDRESS ERRORS IN MEMORY DEVICES USING MULTI-SEGMENT ERROR DETECTION CODES
2021
Հոդված
Polynomial algorithm for equivalence problem of deterministic multitape finite automata
Հոդված
Memory Physical Aware Multi-Level Fault Diagnosis Flow
Հոդված
Fault Awareness for Memory BIST Architecture Shaped by Multidimensional Prediction Mechanism
Գիտաժողովի նյութ
Armenia: Communicating to World Community in Electronic Test and Design
2019
1-3
Արտոնագիր
FINFET-BASED MEMORY TESTING USING MULTIPLE READ OPERATIONS
2019
Հոդված
Experimental study on Hamming and Hsiao Codes in the Context of Embedded Applications
Հոդված
Automated Flow for Test Pattern Creation for IPs in SoC
Հոդված
An Efficient Testing Methodology for Embedded Flash Memories
Հոդված
Security Issues in Test and Repair Infrastructure for Systems-on-Chip
Արտոնագիր
Testing Electronic Memories Based on Fault and Test Algorithm Periodicity
2017
Գիտաժողովի նյութ
Securing Test Infrastructure of System-on-Chips
2016
29-32
Գիտաժողովի նյութ
An efficient approach for memory repair by reducing the number of spares.
2015
21-25
