Լեզուների իմացություն
Հայերեն
English
Русский
Українська
Հրապարակումներ
Գիտաժողովի նյութ
A power based memory BIST grouping methodology.
2015
27-30
Գիտաժողովի նյութ
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories.
2015
19-22
Գիտաժողովի նյութ
Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm.
2014
5-9
