Սարքավորումներ

Նախատեսված է ռենտգենատոպոգրաֆիկական հետազոտությունների  համար:

Նախատեսված է ռենտգենյան սպեկտրաչափական հետազոտությունների համար:

Ապահովում է առավելագույն արդյունավետությունը, ինչպես նաև ամենաճշգրիտ ելքային ազդանշանները՝ միաժամանակ պահպանելով ամենաբարձր ելքային հզորության մակարդակները ամենացածր ներդաշնակությամբ: Որպես աշխարհի առաջատար ազդանշանների գեներատոր՝ այն կարող է կատարել առավել պահանջկոտ վերահսկման և չափման առաջադրանքները ՌՀ կիսահաղորդչային, անլար կապի, օդատիեզերական և պաշտպանական արդյունաբերության մոդուլների և համակարգերի ոլորտում:

• Հաճախականության միջակայք՝ 8 կՀց-ից 12.75 ԳՀց:
• SSB փուլային աղմուկ –132 dBc (տիպ.) 10 ԳՀց և 10 կՀց շեղմամբ:
• Լայնաշերտ աղմուկը –162 dBc (միջին.) 10 ԳՀց և 30 ՄՀց շեղմամբ:

Առավելագույն ելքային հզորությունը գերազանցում է 20 դԲմ-ը լայն հաճախությունների միջակայքում:

Ունի հարմոնիկների բացառիկ ցածր մակարդակ:

Սնուցման աղբյուրը նախատեսված է մինչև 30 Վ հաստատուն լարում կիրառելու համար։

Սնուցման աղբյուրը նախատեսված է մինչև 15 Վ հաստատուն լարում կիրառելու համար։

Սնուցման աղբյուրը նախատեսված է մինչև 30 Վ հաստատուն լարում կիրառելու համար։

Լազերն առաջացնում է իմպուլսային սպիտակ ճառագայթում: Այն տարածականորեն կոհերենտ ճառագայթում է և կազմված է 400-ից մինչև 2400 նմ լույսի հաճախականություններից:

Սարքավորումն օգտագործվում է սուպերկոնտինուում գեներացնելու նպատակով:

Սպեկտրոմետրը նախատեսված է 200-1100 նմ օպտիկական տիրույթում սպեկտրալ վերլուծություն կատարելու համար:

Տեսախցիկի միջոցով գրանցվում է լույսի ինտենսիվությունը: Օգտագործվում է բազմաթիվ ոլորտներում, օրինակ՝ փնջերի ձևավորման, օպտիկական նկարահանման և օպտիկական հաշվման համար:

Տեսախցիկի միջոցով գրանցվում է լույսի ինտենսիվությունը: Օգտագործվում է բազմաթիվ ոլորտներում, օրինակ՝ փնջերի ձևավորման, օպտիկական նկարահանման և օպտիկական հաշվման համար:

Տեսախցիկի միջոցով գրանցվում է լույսի ինտենսիվությունը: Օգտագործվում է բազմաթիվ ոլորտներում, օրինակ՝ փնջերի ձևավորման, օպտիկական նկարահանման և օպտիկական հաշվման համար:

Օգտագործվում է թիթեղի վրա բարակ թաղանթների նստեցման նպատակով:

Բարելավված համակարգ է, որը հնարավորություն է տալիս ընդգրկելու չափումների լայն շրջանակ: Զոնդի գլխիկները ոչ թե սուր ասեղներ են, այլ զսպանակով կոնտակտներ, ինչը կանխում է նուրբ նմուշների, օրինակ՝ նանոմետրերի հաստությամբ պոլիմերային թաղանթների վնասումը:

• Զոնդի տարածությունը՝ 1.27 մմ
• Ուղղանկյուն նմուշի չափի միջակայքը՝ 5–60 մմ
• Շրջանաձև նմուշի չափի միջակայքը (տրամագիծ)՝ 5–76 մմ
• Նմուշի առավելագույն հաստությունը՝ 10 մմ
• Մակերևութային դիմադրության միջակայքը՝ 10 մօհմ–10 մօհմ

1060 նմ ալիքի երկարությամբ պիկոֆեմտովայրկյանային տևողության իմպուլսների գեներատոր։

Օպտիկական իզոլյատորը կիրառվում է օպտիկական մակերևույթներից լազերային փնջի անդրադարձումները դեպի լազեր թույլ չտալու նպատակով։

Նախատեսված է միկրոկառուցվածքների անալիզի և տարբեր նյութերի թեստավորման ու միկրոֆոտոնկարահանման համար:

Հատուկ օպտիկական սեղանը հնարավորություն է տալիս անաղմուկ միջավայրում կատարելու փորձարարական աշխատանքներ:

Օպտիկական սպեկտրային վերլուծիչը կիրառվում է 350–1750 նմ տիրույթում լազերային իմպուլսների սպեկտրները գրանցելու նպատակով։

Մինչև 400 ՄՀց թողունակության շերտով, 4 անկախ կանալով օսցիլլոգրաֆը կիրառվում է ժամանակային ազդանշանների գրանցման նպատակով: